Ab sofort können Kunden bei der X-RAY WorX GmbH den neuen JIMA-Auflösungstest RT RC-04 der Japan Inspection Instruments Manufacturers‘ Association bestellen. Das neue Testmuster wird zur Validierung der maximalen Auflösung von Mikrofokus- und Nano-Röntgensystemen empfohlen.
Der JIMA-Auflösungstest RT RC-04 bietet 23 Testfelder mit den typischen T-förmigen Anordnungen aus schwarzen Linien und weißen Freiräumen. Mit dem Testmuster RT RC-04 lassen sich Auflösungen zwischen 0,1 µm und 10 µm verifizieren, welche in etwa den Brennfleckgrößen zwischen 0,2 µm und 20 µm entsprechen. Das Testmuster wurde insbesondere aufgrund neuer Anforderungen aus der Halbleiterindustrie entwickelt. Es eignet sich für die Validierung und Kalibrierung von Mikrofokus- und Nano-Röntgensystemen, welche in diesem Bereich häufig eingesetzt werden.
Möchten Sie den JIMA-Auflösungstest RT RC-04 erwerben, dann senden Sie bitte eine E-Mail an unsere Serviceabteilung: service@x-ray-worx.com. Unsere Mitarbeiter werden Ihnen umgehen ein Angebot unterbreiten. Selbstverständliche erhalten Sie bei uns weiterhin auch die JIMA-Auflösungstests RT RC-05 und RT RC-02B.
JIMA-Auflösungstest RT RC-04